متالوگرافی

شامل آماده سازی نمونه ها( مانت، سنباده زنی و…)، پولیش، اچ (مکانیکی، شیمیایی و الکتریکی)، تهیه تصاویر ریز ساختار و تحلیل

کوانتومتری

امکان ارسال نمونه های پایه  آهن، مس، آلومینیوم و روی همچنین تعیین ترکیب شیمیایی به روش کوانتومتری به صورت مخرب یا به صورت حداقل ممکن تخریب ، شناسایی مواد فلزی و مطابقت آن با استاندارد ها و آلیاژهای تجاری رایج، شناسایی عناصر Trace ، شناسایی عناصر ناخواسته 

آنالیز: ارائه  نتایج به صورت جدول عناصر و دکر نوع فولاد یا فلز درخواستی طبق دیتای دستگاه و نوشتن تحلیل مرتبط در صورت درخواست

زبری سنجی

زبری، تعیین میزان تغییرات عمودی بر سطح نسبت به سطح صاف واقعی  تعیین بافت سطح می‌شود. در صورتی که تغییرات زیاد باشد سطح زبر، و در صورت کم بودن نرم است. این کمییت نقش مهمی در تعیین اثر متقابل اشیا باهم داشته و با دانستن آن بسیاری از رفتارهای اجزا مکانیکی قابل پیش‌بینی خواهد بود. پرتابل و قابل استفاده در شرایط مختلف می‌باشد.

آنالیز: رسم نمودار نسبت به تعداد نقاطی که زبری اندازه گرفته شده و نوشتن تحلیل مرتبط در صورت درخواست

سختی سنجی

امکان انجام انواع روش های سختی سنجی جهت تعیین خواص مکانیکی، تعيين ماكرو ساختار و ميكرو ساختار قطعات و تعيين صحت عمليات حرارتی و گزارش عددی نتایج

آنالیز: رسم نمودار نسبت به تعداد نقاطی که زبری اندازه گرفته شده و نوشتن تحلیل مرتبط در صورت درخواست

خوردگی

امکان ارسال نمونه ها جهت انجام انواع تست های الکتروشیمیایی ازجمله تافل و امپدانس و همچنین تحلیل و رسم نمودار های تافل ، امپدانس و شارژ دشارژ متناسب با پروژه مورد نظر

آنالیز: رسم نمودارهای تست تافل، EIS و مدار معادل با استفاده از نرم افزار ZView و نوشتن تحلیل مرتبط در صورت درخواست

AFM

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) دستگاهی برای بررسی خواص و ساختارهای سطحی مواد در ابعاد نانومتری است . در این روش غالبا محدودیت اساسی روی نوع سطح و محیط آن وجود ندارد. در این دستگاه امکان سطوح رسانا یا عایق، نرم یا سخت، منسجم یا پودری، بیولوژیک و آلی یا غیر آلی بررسی می­شود. در این دستگاه قابلیت اندازه گیری خواص مختلف مانند مورفولوژی هندسی، توزیع چسبندگی، اصطکاک، ناخالصی سطحی، جنس نقاط مختلف سطح،کشسانی، خواص مغناطیسی، بزرگی پیوندهای شیمیایی، توزیع بارهای الکتریکی سطحی و قطبیت الکتریکی نقاط مختلف وجود دارد. در عمل از این قابلیت ها برای بررسی ویژگی هایی همچون خوردگی، تمیزی، یکنواختی، زبری، چسبندگی، اصطکاک و اندازه استفاده می شود.

آنالیز: استخراج تصویر و نتایج از نرم افزار شده و نوشتن تحلیل مرتبط در صورت درخواست

SEM

آنالیز SEM یا میکروسکوپ الکترونی روبشی از اعضای خانواده میکروسکوپ‌های الکترونی است که جهت تصویربرداری از نمونه و تعیین ویژگی های سطحی و مورفولوژی آن استفاده می شود. آنالیز FESEM قدرت تفکیک و بزرگنمایی بالاتری دارد در حقیقت در این روش ثبت تصویر توسط الکترون ها صورت گرفته که قدرت بزرگنمایی آن بسیار بیشتر از میکروسکوپ های نوری است و تا چند صد هزار برابر می توانند تصویربرداری کنند. تصویر به دو صورت Backscatter Diffraction و Secondary electron انجام می‌شود.

آنالیز: مقیاس گذاری، تلفیق تصاویر، محاسبه اندازه دانه و… با استفاده از نرم افزار  ImageJ و نرم افزار های اندازه دانه، نوشتن تحلیل مرتبط در صورت درخواست

XRD

پراش اشعه ایکس X-Ray Diffraction یک روش غیر تخریبی با چند کاربرد است که اطلاعات جامعی درباره ترکیبات شیمیایی و ساختار کریستالین مواد طبیعی و صنعتی ارائه می‌دهد. هر ساختار کریستالی، الگوی پراش اشعه X منحصر به فرد خود را داراست که به عنوان اثر انگشت برای تعیین هویت آن استفاده شود.

آنالیز: استخراج نمودار با استفاده از نرم افزار HighScore Plus، رسم نمودار و نوشتن تحلیل مرتبط در صورت درخواست

خدمات آنالیز، تحلیل نتایج و مشاوره

این مجموعه آماده ارسال انواع نمونه‌ها جهت انجام آنالیز، تحلیل نتایج و مشاوره در زمینه صنعتی، مهندسی، آزمایشگاهی و تحقیقاتی است. سایر خدمات و نرم افزار‌های مرتبط از جمله  HEC-RAS، Flow-Pro، weka ، Flow rate،  SolidWorks ، ترجمه، تایپ، نرم افزارهای آفیس، Origin 6.1 و نیز پذیرفته می­‌شود. آنالیز های بیشتر در دست بررسی و ارائه خدمات می‌­باشد. در صورت نیاز به آنالیز های بیشتر لطفا تماس بگیرید.

فرم ثبت سفارش